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        專利名稱
        主分類
        A 農業
        B 作業;運輸
        C 化學;冶金
        D 紡織;造紙
        E 固定建筑物
        F 機械工程、照明、加熱
        G 物理
        H 電學
        專利下載VIP
        公布日期
        2022-09-16 公布專利
        2022-09-13 公布專利
        2022-09-09 公布專利
        2022-09-06 公布專利
        2022-09-02 公布專利
        2022-08-30 公布專利
        2022-08-26 公布專利
        2022-08-23 公布專利
        2022-08-19 公布專利
        2022-08-16 公布專利
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        • [發明專利]分析-CN201410465960.5有效
        • 尤金·埃曼特勞特;托馬斯·凱澤;延斯·圖赫舍雷尓;維克·貝爾;托爾斯滕·舒爾茨;安克·沃斯特梅耶爾 - 科隆迪亞戈有限公司
        • 2009-03-16 - 2017-06-16 - G01N33/68
        • 本發明描述了針對多個分析物中每一個分析物對樣品進行分析的方法。所述方法包括將間隔開的測試區的陣列與液體樣品(例如全血)接觸。測試區布置在微流裝置的通道內。每個測試區包含專用于相應的靶分析物的探針化合物。壓縮所述微流裝置以縮小通道的厚度,所述厚度是通道內的各壁的內表面之間的距離。通過光學檢測在相應位置處縮小了內表面之間距離的多個測試區中每個測試區處的相互作用,確定每種分析物的存在。每個測試區處的相互作用表明樣品中靶分析物的存在。裝置的或用于所述方法的毛細結構可以包含基質,并且所述裝置可以包含控制元件,用于分析樣品的方法可以使用相應的控制行為。
        • 分析
        • [發明專利]分析-CN200980117197.4有效
        • 尤金·埃曼特勞特;托馬斯·凱澤;延斯·圖赫舍雷爾;維克·貝爾;托爾斯滕·舒爾茨;安克·沃斯特梅耶爾 - 科隆迪亞戈有限公司
        • 2009-03-16 - 2011-04-20 - B01L3/00
        • 本發明描述了針對多個分析物中每一個分析物對樣品進行分析的方法。所述方法包括將間隔開的測試區的陣列與液體樣品(例如全血)接觸。測試區布置在微流裝置的通道內。每個測試區包含專用于相應的靶分析物的探針化合物。壓縮所述微流裝置以縮小通道的厚度,所述厚度是通道內的各壁的內表面之間的距離。通過光學檢測在相應位置處縮小了內表面之間距離的多個測試區中每個測試區處的相互作用,確定每種分析物的存在。每個測試區處的相互作用表明樣品中靶分析物的存在。裝置的或用于所述方法的毛細結構可以包含基質,并且所述裝置可以包含控制元件,用于分析樣品的方法可以使用相應的控制行為。
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