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        [發明專利]用于逐次逼近模數轉換器的失調校準控制方法在審

        專利信息
        申請號: 202210752181.8 申請日: 2022-06-29
        公開(公告)號: CN115118281A 公開(公告)日: 2022-09-27
        發明(設計)人: 徐明祿;張亮 申請(專利權)人: 北京知存科技有限公司
        主分類號: H03M1/10 分類號: H03M1/10
        代理公司: 暫無信息 代理人: 暫無信息
        地址: 100083 北京市海淀*** 國省代碼: 北京;11
        權利要求書: 暫無信息 說明書: 暫無信息
        摘要: 發明實施例提供一種用于逐次逼近模數轉換器的失調校準控制方法,通過在采樣相后加入失調校正相,通過在所述采樣相和所述失調校正相控制逐次逼近模數轉換器的電容陣列的電容控制開關,使得電容陣列的上極板電壓產生變化以抵消失調電壓,由此,在實現失調電壓校準的基礎上,不需要加入額外的校準電容陣列來進行失調的校準,避免版圖面積增大,也避免前級驅動電路的功耗增加。
        搜索關鍵詞: 用于 逐次 逼近 轉換器 失調 校準 控制 方法
        【主權項】:
        暫無信息
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        • 本發明實施例提供一種用于逐次逼近模數轉換器的失調校準控制方法,通過在采樣相后加入失調校正相,通過在所述采樣相和所述失調校正相控制逐次逼近模數轉換器的電容陣列的電容控制開關,使得電容陣列的上極板電壓產生變化以抵消失調電壓,由此,在實現失調電壓校準的基礎上,不需要加入額外的校準電容陣列來進行失調的校準,避免版圖面積增大,也避免前級驅動電路的功耗增加。
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        • 本發明公開了一種基于時間域的高速模擬數字轉換電路,包括:采樣保持電路、電壓時間轉換器、時間數字轉換器、校準電路四部分。連續的差分模擬信號經采樣保持電路輸出為離散的電壓信號;離散的電壓信號經VTC以恒定電流下降并與固定參考電壓比較后產生離散的時間信號;離散的時間信號經TDC輸出為相同權重的溫度碼并經數字邏輯電路轉換為二進制碼,完成整體電路的轉換工作。在整體電路轉換過程中,輔助以校準電路對VTC的電容進行修正,實現PVT魯棒性設計。本發明對模擬數字轉換電路在電壓域量化的基礎上提出時間域量化方法,利用時間域高速、中低功耗的數據轉換優勢,結合校準技術實現PVT魯棒性,最終達到高速、高性能的時間域ADC。
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        • 2022-06-01 - 2022-09-20 - H03M1/10
        • 本發明公開一種模數轉換器及電容權重校準方法和裝置,包括:模數轉換模塊,接收輸入信號,并對輸入信號進行模數轉換;振蕩器模塊,連接于模數轉換模塊中的電容陣列,根據電容陣列中接入的電容單元產生控制信號;頻率檢測模塊,連接于振蕩器模塊的輸出端,檢測振蕩器模塊輸出的控制信號的振蕩頻率。通過在原始模數轉換結構上增加振蕩器模塊和頻率檢測模塊,并通過將模數轉換模塊中的電容陣列作為振蕩器模塊的電容,從而可以將電容陣列中的各個電容單元分別接入振蕩器模塊,振蕩器模塊根據電容陣列中接入的電容單元產生控制信號,頻率檢測模塊檢測控制信號的振蕩頻率,從而根據頻率檢測模塊檢測到的振蕩頻率可以對接入的電容單元進行精確校準。
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        • 本發明公開了一種模數轉換器及其數字校準方法,其中模數轉換器包括環路濾波器、量化器、反饋DAC組件、雙路選擇開關、基準DAC單元和數字處理模塊,反饋DAC組件包括多個并行連接的反饋DAC單元,從輸入端到輸出端之間環路濾波器、量化器和數字處理模塊依次相互連接,反饋DAC組件的第一端和基準DAC單元的第一端分別以相反的極性接入環路濾波器,反饋DAC組件的第二端連接雙路選擇開關的第一端,雙路選擇開關的第二端可選擇的兩路中的第一路連接在量化器和數字處理模塊之間,第二路連接第一數字序列信號;基準DAC單元的第二端連接第二數字序列信號。本發明能夠有效、經濟地消除模數轉換器中的反饋DAC組件的動態誤差和靜態誤差。
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        • 2022-02-21 - 2022-09-20 - H03M1/10
        • 本發明公開一種級間增益誤差校準方法、裝置、設備及介質,涉及模數轉換器技術領域,以解決流水線型模數轉換器級間增益誤差校準的問題。該方法包括:在流水線型模數轉換器的其中一級子數模轉換器注入偽隨機噪聲序列得到后級模數轉換器的數字碼,對該數字碼注入偽隨機噪聲序列得到后級數字輸出,根據遞歸最小二乘法提取級間增益系數,根據級間增益系數對級間增益誤差進行校準。本發明提供的級間增益誤差校準方法用于提高流水線型模數轉換器級間增益系數提取的收斂速度和跟蹤性能。
        • 全差分模數轉換器及電容權重校準方法和裝置-202210616385.9
        • 黃勝;虞少平 - 浙江地芯引力科技有限公司
        • 2022-06-01 - 2022-09-20 - H03M1/10
        • 本發明公開一種全差分模數轉換器及電容權重校準方法和裝置,包括:模數轉換模塊接收差分輸入信號并對差分輸入信號進行模數轉換;振蕩器模塊連接于模數轉換模塊的正端電容陣列和負端電容陣列,根據正端電容陣列和負端電容陣列中接入的相同位電容單元產生控制信號;頻率檢測模塊連接于振蕩器模塊的輸出端,檢測振蕩器模塊輸出的控制信號的振蕩頻率。通過在模數轉換結構上增加振蕩器模塊和頻率檢測模塊,并通過將正端電容陣列和負端電容陣列作為振蕩器模塊的電容,從而將正端電容陣列和負端電容陣列中的相同位電容單元接入振蕩器模塊產生控制信號,頻率檢測模塊檢測控制信號的振蕩頻率,從而根據檢測到的振蕩頻率可以對電容單元的總和進行精確校準。
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        • 本申請提供ADC?DAC組合的片上自測試系統及方法。所述系統包括:測試控制器,斜坡信號發生器,數字向量生成器,比較器,計數器,碼存儲器及測試控制模塊;在對模數轉換器進行測試時,斜坡信號發生器發出斜坡信號,模數轉換器將斜坡信號轉換為數字信號,輸入到碼存儲器進行存儲,對存儲的數值序列進行計算分析;在對數模轉換器進行測試時,模數轉換器將數字向量轉換為模擬信號,輸入到比較器的負端,控制斜坡信號輸入到比較器的正端;根據比較結果控制數字向量遞增,計數器將時鐘計數輸入到碼存儲器,直至數模轉換器的輸入碼值范圍被遍歷,對存儲的數值序列進行計算分析。本申請無需外加測試設備,可以對模數轉換器和數模轉換器進行測試。
        • 一種電容失配校準方法及電路-202210447242.X
        • 劉堯;劉筱偉;李建平;班桂春;朱志晞;劉森 - 微龕(廣州)半導體有限公司
        • 2022-04-27 - 2022-09-09 - H03M1/10
        • 本發明提供一種電容失配校準方法及電路,包括:第一電容陣列、第二電容陣列及參考電容,其中:第一電容陣列、第二電容陣列及參考電容的上極板均連接在一起;基于工作狀態切換第一電容陣列的下極板、第二電容陣列的下極板及參考電容的下極板的電壓值,以此計算得到第一電容陣列與第二電容陣列相對于參考電容的偏差。通過計算第一電容陣列與第二電容陣列相對于參考電容的偏差,對第一電容陣列及第二電容陣列中的電容進行校準,設計ADC、DAC等數據轉換器,從而提高數據轉換器的精度。通過種子矩陣最終得到一個非零的行列式矩陣,計算第一電容陣列及第二電容陣列中每一個電容的具體校準值,操作過程簡化,運算量小,有效地節約計算資源。
        • 一種高精度ADC電路測試裝置及測試方法-202210429399.X
        • 林浩;林豐成;鄧小群;唐會杰;黃嘉鑫;何金泉;楊鑫源;冉成新;王志紅;陳文新;張廉;許丹;蘇明 - 深圳市質能達微電子科技有限公司
        • 2022-04-22 - 2022-09-06 - H03M1/10
        • 本發明公開了一種高精度ADC電路測試裝置,包括底板、第一支架、測試控制模塊、取料測試機構、送料機構和卸料斜槽;第一支架設于底板上;測試控制模塊設于第一支架的頂部;取料測試機構用于將送料機構上的待測ADC集成電路芯片進行抓取,并使待測ADC集成電路芯片進行固定后與測試控制模塊電氣導通,將測試合格的ADC集成電路芯片放置回送料機構,將測試不合格的ADC集成電路芯片置于卸料斜槽上;送料機構活動貫穿于第一支架并位于取料測試機構下方;卸料斜槽傾斜設置在第一支架的開口內,且卸料斜槽的高端貼靠在送料機構的一側;本發明實現ADC集成電路芯片的測試與分選同時進行,提高工作效率,降低生產成本,避免出現不良品混料現象。
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